當前位置:首頁 > 开云体育域名注册流程 > 冷熱衝(chong) 擊箱 > 二箱式冷熱衝(chong) 擊試驗箱 > 2AP-CJ-100A兩(liang) 箱式冷熱衝(chong) 擊試驗箱
簡要描述:兩(liang) 箱式冷熱衝(chong) 擊試驗箱高低製冷循環均采用逆卡若循環,該循環由兩(liang) 個(ge) 等溫過程和兩(liang) 個(ge) 絕熱過程組成。過程如下:製冷劑經壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之後製冷劑經冷凝器等溫地和四周介質進行熱交換,將熱量傳(chuan) 給四周介質。後製冷劑經閥絕熱膨脹做功,這時製冷劑溫度降低。最後製冷劑通過蒸發器等溫地從(cong) 溫度較高的物體(ti) 吸熱,使被冷卻物體(ti) 溫度降低。此循環周而複始從(cong) 而達到降溫之目的。
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價格區間 | 10萬-20萬 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 能源,建材/家具,電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
兩(liang) 箱式冷熱衝(chong) 擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(ye) 備的測試設備,用於(yu) 測試材料結構或複合材料,在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度,得以在短時間內(nei) 檢測試樣因熱脹冷縮所弓|起的化學變化或物理傷(shang) 害。\
產(chan) 品介紹:
控製儀(yi) 表可編程,觸摸屏輸入,根據客戶要求可任意設定不同高低溫衝(chong) 擊溫度點,滿足做測試的不同需求.
試樣限製本試驗設備禁止易燃、易爆、易揮發性物質試樣的試驗或儲(chu) 存腐蝕性物質試樣的試驗或
儲(chu) 存生物試樣的試驗或儲(chu) 存強電磁發射源試樣的試驗或儲(chu) 存。
兩(liang) 箱特點·彩色觸控LCD中/英文微電腦溫度控製器。
·無紙式記錄功能,具實時顯示溫度衝(chong) 擊試驗變化之曲線圖及記錄雙重功能。
·二箱移動式冷熱衝(chong) 擊,安全的氣壓驅動測試物上下來回衝(chong) 擊。
·冷熱衝(chong) 擊機構移動時間在10秒內(nei) ,可符合MIL,LEC,JIS等規範。
·冷熱衝(chong) 擊溫度恢複時間在5分鍾內(nei) ,可符合相關(guan) 試驗規範。
·采用HFC環保冷媒,二元超低溫冷凍係統設計,降溫快、效率高。
內(nei) 容積100L
內(nei) 箱尺寸:500×500×400mm (W* H *D)
外型尺寸(約):1400×1850×1600mm (W* H *D)
重 量:約950㎏
滿足標準
.GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法Test method of low tempemture test
·GB/T2423.2-2008 高溫試驗方法Test method of high temperature test
·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗Test of temperature chantge
·GJB150.5-86溫度衝(chong) 擊試驗Test of temperature shock
·GJB360.7-87溫度衝(chong) 擊試驗Test of temperature shock
·GJB367.2-87溫度衝(chong) 擊試驗Test of temperature shock
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
測試室溫度範圍-40℃~+150 ℃ (風冷式)
高溫室
預熱溫度範圍RT~+165℃
升溫時間
+50℃→+165 ≤40min
注:升溫時間為(wei) 高溫室單獨運轉時的性能
低溫室
預冷溫度範圍RT~-55℃
降溫時間+20℃ → -55℃≤約90min
試驗室(試樣區)
試驗方式把產(chan) 品擺放在吊籃測試區,二箱移動式冷熱衝(chong) 擊,安全的氣壓驅動測試物上下來回衝(chong) 擊。
溫度波動度±0.5℃
溫度偏差±2.0℃
溫度恢複時間≤5min;轉換溫度隻需要≤10s(吊籃移動時間:3秒以內(nei) )
兩(liang) 箱式冷熱衝(chong) 擊試驗箱高品質的製冷配置:
環境試驗設備要獲得較低的試驗溫度,當前較為(wei) 成熟的方式是複迭式製冷。這種方式的原理都大同小異,關(guan) 鍵取決(jue) 於(yu) 製冷係統的配置。
安全保護:壓縮機超壓過載、風機過熱整體(ti) 設備欠相/逆相超溫、整體(ti) 設備定時、漏電保護、 過載及短路保護
防汗機件:以係統K型管之熱能作防汗處理。
溫度衝(chong) 擊試驗目的:溫度衝(chong) 擊試驗目的是考察被試樣品在突然遭到溫度劇烈變化時之抵抗能力及適應能力的試驗高低溫衝(chong) 擊試驗主要用於(yu) 考察剪切和疲勞損傷(shang) 引起的失效。特別在元器件存在虛弱部位具有開路隱患時,或由於(yu) 元器件材料和結構設計不當具有開裂隱患時,高低溫衝(chong) 擊試驗具有較好的鑒別效果。該實驗一般用溫度衝(chong) 擊試驗箱。
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